XRF熒光光譜儀測(cè)定分析鐵礦石品質(zhì)---EDX9000B測(cè)礦儀

鐵礦石是鋼鐵工業(yè)的重要原料,其品質(zhì)的好壞直接影響著冶煉產(chǎn)品的質(zhì)量,因此,對(duì)鐵礦石品質(zhì)進(jìn)行快速,準(zhǔn)確的檢測(cè)是非常重要的.采用XRF分析技術(shù)對(duì)鐵礦石的品質(zhì)檢測(cè)具有測(cè)量時(shí)間短,結(jié)果穩(wěn)定可靠等優(yōu)點(diǎn).我們對(duì)鐵礦石品質(zhì)的檢測(cè)展開(kāi)了XRF分析技術(shù)的研究,主要討論了影響測(cè)量精度的各種因素及校正方法,對(duì)鐵礦石中的氧化礦原礦,混合鐵精礦,再磨鐵精礦,永磁尾礦等樣品作了分析研究.論文取得的主要成果有:

1)從相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差的公式著手,對(duì)XRF分析儀器的精確度做了評(píng)價(jià),試驗(yàn)結(jié)果為RSD=0.150%;

2)通過(guò)對(duì)同一鐵礦石樣品分別進(jìn)行300s,200s,150s,1350s,120s,105s,95s,85s,75s,65s,55s,45s,35s,25s,15s,10s和5s的重復(fù)測(cè)試,評(píng)價(jià)了不同測(cè)量時(shí)間下XRF分析儀RSD值的趨勢(shì),得出EDX9000B高精度XRF快速分析儀在外部條件較穩(wěn)定的情況下,最佳測(cè)量時(shí)間為200s;

3)通過(guò)對(duì)"譜漂"的理論研究和數(shù)學(xué)模型的建立,從解譜軟件中的譜峰面積處理著手,將Fe的Kα峰面積與Kβ峰面積(即總峰面積)代替Kα峰面積,有效地解決了因"譜漂"而產(chǎn)生的計(jì)數(shù)率變化的問(wèn)題;

如下是鐵礦石實(shí)測(cè)譜圖

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時(shí)分析40種元素

3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器提供出色的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì)，雙真空抽速機(jī)構(gòu)，真空度自動(dòng)穩(wěn)定系統(tǒng)

6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作

7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

礦產(chǎn)元素檢測(cè)專(zhuān)家EDX9000B Plus

>儀器參數(shù)