XRF熒光光譜測金儀的基本原理

XRF熒光光譜測金儀EDX6000的基本原理

X 射線熒光 (XRF) 測金儀EDX6000是一種診斷性無損檢測技術，可用于檢測和測量物質中元素的濃度。熒光是現象吸收入射輻射并將其重新輻射為低能量輻射。一個熒光的例子是“T"襯衫，當暴露在隱形環境中時會明顯發光的紫外線。某些礦物質會發出熒光；什么時候暴露在紫外線下，它們會發出熒光——發出可見光。在原子尺度上，可見光熒光是由入射的紫外線引起的從原子的外層電子殼中射出低能電子。空缺，留下由射出的電子填充，由從最外層“落入"的電子填充。這個“插入"以某種可見光的形式釋放特定量的能量顏色（能量）。

在 X 射線熒光中，同樣的原理適用，但傳入的能量輻射更高。而不是將物質暴露在紫外線輻射下，觀察可見光熒光，將物質暴露在 X 射線下并發出熒光發出較低能量的 X 射線。

在原子尺度上，X 射線熒光是由來自原子最內層電子殼層的高能電子射出的入射 X 射線引起的。留下的空缺射出的電子被從外殼“落入"的電子所填充。這個“插入"會以特征 X 射線的形式釋放特定數量的能量。熒光 X 射線的離散能量是能量水平的“特征"元素中的電子殼層。每個元素的這些能級是不同的。因此，通過分析由一個發射器發射的熒光 X 射線光譜的能量，

物質，人們可以確定存在哪些元素，以及它們在物質中的濃度物質。該信息可能足以識別物質。

黃金珠寶首飾檢測專家EDX6000測金儀

>儀器參數

儀器外觀尺寸: 400mm*405mm*455mm

樣品腔：300mm*310mm*104mm

儀器重量: 38 kg

元素分析范圍：K19-U92鉀到鈾

可分析含量范圍：1ppm- 99.99%

探測器：AmpTek 高分辨率電制冷硅檢測器Si-Pin

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管：50W高功率鈹窗光管

高壓發生裝置：電壓最大輸出50kV，自帶電壓過載保護

電壓：220ACV 50/60HZ

環境溫度：-10 °C 到35 °C

儀器配置

>標準配置>可選配置

純Au初始化標樣交流凈化穩壓電源

戒指樣品夾黃金標樣

USB數據線

電源線

測試薄膜

儀器出廠和標定報告

保修卡

功能強大界面友好的FP測試軟件

1.一鍵測試，客戶只需要打開儀器蓋子，放入樣品，點擊‘開始’按鈕即可完成測試

2.核心FP算法，使得EDX6000匹配實驗室火試金法的測試精度

3.元素含量，黃金K值，測試譜圖一目了然

4.一鍵打印測試報告

5.多點測試功能。客戶可以測量樣品多個點位，軟件自動計算平均值。

及時而專業的售后服務  

>對客戶方操作人員進行技術培訓

>現場安裝、調試、驗收服務

>產品終身維修

>免費提供軟件升級

>提供高效的技術服務，在接到用戶故障信息后，8小時內響應，如有需要，48小時內工程師上門維修和排除故障