能量色散X熒光光譜測金儀分析鑒別假金假珠寶

EDX6000D能量色散X熒光光譜測金儀分析鑒別假金假珠寶

隨著金價飛漲，假金條成為貴金屬行業的難題。現代假貨的外觀和感覺就像真品一樣，如果您沒有合適的工具，識別假金條是一項挑戰。英飛思科學開發了一種兩步式解決方案來快速輕松地檢測假金條。

第1步：

用X射線熒光(XRF)測金儀測試金條的外部。XRF測金儀 將通過直接測量金和微量元素（包括銀、銅、鎳、鉑、鈀、銥和任何其他通常與金形成合金的元素）來確定金條的純度。我們的分析儀易于使用的軟件可以顯示黃金百分比、克拉或成色。如果可能存在鍍金，板警報功能會通知用戶。XRF熒光光譜儀的原理主要是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行， 內層電子（如K 層）在足夠能量的X 射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L 層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X 射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X 射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光光譜儀(XRF測金儀)

第2步：

使用我們的密度儀儀器測試金條的整個密度，以幫助確保它始終是“真實的"。高品質的贗品可能外面有真金，但里面可能裝滿了更便宜的金屬。密度儀可以幫您輕松鑒別內部不是純金的假金或者假珠寶。

密度法原理是根據阿基米德原理測定樣品在空氣中的質量除以其體積得到被測樣品的密度，再根據首飾中可能含有雜質元素的密度和黃金的密度計算出首飾中金的純度。

密度法的優點為分析速度快，樣品無損，儀器及測定成本低。單純的密度法僅適用于組分簡單的首飾; 對于組分復雜的首飾，密度法有較大的誤差，需與其他方法聯用，而最常見的聯用方法為 X 熒光光譜法。密度法有一定的局限性，要求被測樣品表面非常光滑，無飛毛邊刺和裂紋狹縫。若樣品內部存在空心、氣泡等情形，則密度法更加不適用; 而這類問題在黃金熔煉、澆鑄過程中是較為普遍的。另外，對于表面鍍層樣品以及摻銥、鎢、鉛的樣品，由于金屬銥、鎢、

鉛的密度與金非常接近或更大，這類物質在故意作假的黃金首飾特別是在金條中容易出現，它們不是均勻與基體材料混合，即使與 X 射線熒光法聯用也很難識別，因此該方法黃金純度檢測有很大的誤差和風險

EDX6000D測金儀的優點包括

>準確：精準測量千足金萬足金和K金

>快速分析: 最快10秒出結果

>無損：測量*不會破壞樣品

>無需每天重復標定，快速分析，簡單易用

>一次分析所有貴重金屬元素金，銀，鉑，鈀，銠

>雜質及有害元素測量包括鎳，銅，鋅，鉛，銥等

>很高的性價比