用X射線熒光光譜儀測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

X射線熒光光譜儀EDX9000B測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

采用熔融片制樣用X射線熒光光譜儀EDX9000B對陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf 15種元素進(jìn)行了測定,用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正基體效應(yīng).方法簡便,快速,分析結(jié)果的準(zhǔn)確度很好能滿足上述物料分析的要求.還用純化學(xué)試劑和標(biāo)準(zhǔn)樣品按一定比例混合制備標(biāo)準(zhǔn)樣品,彌補(bǔ)了色料和釉缺少標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)樣的困難.又對Zr和Hf元素分析線進(jìn)行了選擇,用ZrLα和HfLβ1作為分析線,而不采用ZrKα,不僅使制備的熔片達(dá)到ZrLα線的飽和厚度,使分析結(jié)果的準(zhǔn)確度和重現(xiàn)性好,而且還消除了ZrKα的譜線對HfLβ1分析線的干擾