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專注光譜分析
光譜分析設(shè)備產(chǎn)品生產(chǎn)家18962188051
X射線熒光光譜儀EDX9000B測定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素
采用熔融片制樣用X射線熒光光譜儀EDX9000B對陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf 15種元素進行了測定,用經(jīng)驗系數(shù)法校正基體效應(yīng).方法簡便,快速,分析結(jié)果的準確度很好能滿足上述物料分析的要求.還用純化學試劑和標準樣品按一定比例混合制備標準樣品,彌補了色料和釉缺少標準或沒有標樣的困難.又對Zr和Hf元素分析線進行了選擇,用ZrLα和HfLβ1作為分析線,而不采用ZrKα,不僅使制備的熔片達到ZrLα線的飽和厚度,使分析結(jié)果的準確度和重現(xiàn)性好,而且還消除了ZrKα的譜線對HfLβ1分析線的干擾
聯(lián)系人：張經(jīng)理
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