XR光譜儀用于測量水泥中的關鍵元素并滿足ASTM C114精度要求

XRF光譜水泥分析儀EDX9000B plus用于測量水泥中的關鍵元素并滿足ASTM C114精度要求

水泥生產商必須保持生產流程準確、高效運行，從而確保他們的客戶獲得適合特定應用的優質材料。X 射線熒光 (XRF) 光譜法最重要的應用之一是在生產環境中分析水泥。毫無疑問，用于評估用于分析水泥的 XRF 儀器（和其他分析技術）性能的廣泛使用的標準測試方法是 ASTM C-114，水硬性水泥化學分析的標準測試方法。

我們進行了一項研究，以確認水泥分析儀EDX9000B plus 儀器可以滿足標準ASTM C-114對水泥分析的要求，同時在不犧牲性能的情況下縮短分析時間。

儀器測量參數設定

所測試的水泥分析儀EDX9000B plus新型XRF光譜儀配備有最大功率為50瓦的具有薄Be窗口的風冷Rh靶材管。它配備了超高分辨率的電冷卻硅漂移探測器(FSDD)。該儀器具有7個初級濾光片，可確保始終找到最佳激發條件。使用兩種激發條件來覆蓋表所有目標分析物：一種條件在6kV下不帶過濾光片以激發從鈉到硫的所有輕元素，另一種在30kV下使用薄Mo過濾光片來激發所有剩余目標分析物。我們使用了300秒的總生存時間來完成一個樣品分析。所有測量均在真空條件下進行。

樣品制備方法為為粉末壓片技術

所有樣品經粗磨后還必須進一步細磨，在30MPa壓力下加壓成型，以減小顆粒效應、礦物效應、元素間吸收-增強效應。

?細磨

白生料：稱量30g樣品（精確到0.05g），0.2g硬脂酸（精確到0.0001g）（助磨劑，以防止細磨過程中結塊，提高研磨效率），放入振動磨中，細磨2分鐘。

熟料：稱量30g樣品（精確到0.05g），放入振動磨中，往磨中加10滴乙醇，細磨2分鐘。

石膏、鐵粉：稱量30g樣品（精確到0.05g），1g硬脂酸（精確到0.0001g），放入振動磨中，細磨3分鐘。

砂巖、頁巖、粉煤灰：稱量20g樣品（精確到0.05g），2g硬脂酸（精確到0.0001g），放入振動磨中，細磨1分鐘。

上述細磨時間僅供參考。用戶應該根據本廠振動磨的研磨效率，通過實驗來確定最佳研磨時間。一般可用一參考樣品，不斷增加對它的研磨時間，同時測量其特征X射線強度，直至測得的強度不再升高（或降低）趨于恒值為止。注意：在細磨每個樣品前，必須將振動磨的料缽清洗干凈。細磨后的樣品，放入小磨口瓶中保存，貼上標簽，注明樣品編號、日期。

可分析水泥含量范圍如下圖

水泥分析儀EDX9000Bplus 水泥基體檢出限

Na2O--0.018%

MgO --0.011%

Al2O3 -- 0.006%

SiO2   --0.003%

P2O5 -- 0.002%

SO3   --0.001%

K2O -- 0.005%

CaO   --0.003%

TiO2 -- 0.003%

Mn2O3   --0.001%

Fe2O3 -- 0.001%

ZnO   --0.00%

堅固耐用的設計，使得水泥分析儀EDX9000B plus可24小時全天候在水泥廠現場使用。快速分析原材料、中間產品（即熟料）和成品水泥。交付，預先標定的工廠程序使得用戶快速分析水泥和礦物成分，測量水泥中的所有關鍵元素，滿足ASTM C114（水硬性水泥XRF分析）精度要求