X熒光測硫儀測量時要注意樣品臺板的位置

X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時候，會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對應(yīng)的測試強度。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關(guān)系，也就是標(biāo)定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標(biāo)定曲線后，再去測試未知樣品，便可快速分析石油及其他液體中的硫含量。