XRF鍍層測(cè)厚儀常用到的測(cè)量方法分享

　　XRF鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測(cè)儀器，主要用于電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。

 

　　XRF鍍層測(cè)厚儀常用到的測(cè)量方法都有哪些呢？

 

　　1、磁性測(cè)厚法

 

　　適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測(cè)量精度高。

 

　　2、渦流測(cè)厚法

 

　　適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低一點(diǎn)。

 

　　3、超聲波測(cè)厚法

 

　　目前國(guó)內(nèi)還沒(méi)有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠(chǎng)家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量場(chǎng)合。

 

　　4、電解測(cè)厚法

 

　　此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。

 

　　5、放射測(cè)厚法

 

　　此種儀器適用于一些特殊場(chǎng)合。

 

　　探頭測(cè)量時(shí)的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測(cè)量值下降。活產(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜，這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧８矊又写嬖谀承╄F磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì)對(duì)測(cè)量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對(duì)用作校準(zhǔn)的對(duì)比試樣覆層應(yīng)具有與被測(cè)物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準(zhǔn)后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測(cè)試后獲得對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)。