作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場所。專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析。

作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場所。專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析。

材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確，快速，無損，操作簡單，測量速度快?？赏瑫r(shí)分析多達(dá)五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。其優(yōu)異的線性動(dòng)態(tài)范圍，可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達(dá)到最佳分析效果。

新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時(shí)配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復(fù)雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。分析速度快，測試結(jié)果精確，儀器性能穩(wěn)定。

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