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              當前位置:首頁   >  產品中心  >    >  礦產分析儀  >  EDX-9000B PLUSEDX9000B PLUS X熒光光譜礦產礦石分析儀

              EDX9000B PLUS X熒光光譜礦產礦石分析儀

              簡要描述:ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(勘探、開采、品位控制),工業礦物,
              生產水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化學學術研究,考古等。EDX9000B plus優異的線性動態范圍,可實現在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業進行超高精度的過程控制和質量控制。
              具有全新真空光路系統和超高分辨率技術的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物

              • 產品廠地:蘇州市
              • 廠商性質:生產廠家
              • 更新時間:2024-10-29
              • 訪  問  量:24975

              詳細介紹

              品牌英飛思行業專用類型地質巖礦
              重復性0.01%能量分辨率125eV
              分析含量范圍1ppm-99.99%元素分析范圍Na-U
              價格區間30萬-50萬儀器種類臺式/落地式
              應用領域環保,地礦,能源,建材/家具,道路/軌道/船舶探測器FSDD

              EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer

              能量色散X熒光光譜儀

              礦產礦石專用分析儀

               

               

              Simply the Best

              >*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

              >真空光路配備薄膜濾光片技術,提高輕元素檢出限

              >可同時分析40種元素

              >可分析固體,液體,粉末和泥漿

              >進口X光管管芯提供可靠樣品激發性能

              >無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結果)

              >無需化學試劑,無耗材,更環保,更高效

               

              產品特點

              1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

              2.可同時分析40種元素

              3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

              4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率

              5.超高記數數字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩定系統

              6.標配基本參數法軟件,多任務,多窗口操作

              7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限

               


              >儀器參數

              儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

              超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

              半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×75mm

              儀器重量: 48Kg

              元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

              可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

              探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

              探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

              處理器類型:全數字化DP-5分析器

              譜總通道數:4096

              X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

              光管窗口材料:鈹窗

              準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

              濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

              高壓發生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

              高壓參數:最小5kv可控調節,自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

              樣品觀察系統:500萬像素高清CCD攝像頭

              電壓:220ACV 50/60HZ

              環境溫度:-10 °C 35 °C

               




















              儀器配置

              >標準配置

              >可選配置

              Ag初始化標樣

              磨樣機

              真空泵

              壓片機

              礦石專用樣品杯 

              烘干箱

              USB數據線

              ESI-900XRF專用全自動熔樣機

              電源線

              電子秤

              測試薄膜

              礦石標準物質

              儀器出廠和標定報告

              交流凈化穩壓電源

              保修卡

              150目篩子

               

               

               








              全新設計的XTEST分析軟件

              軟件內核包括基本參數法FP),經驗系數法(EC,可輕松分析各類樣品。

              *光譜處理參數包括用于定義背景連續性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量

              *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質效應,增強和吸收。

              *譜顯示:峰定性,KLM標記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖

              *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應,將光峰強度建模為高斯函數。

              *可以使用純基本參數方法,具有分散比的基本參數(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。

              *基本參數分析可以基于單個多元素標準,多個標準或沒有標準的樣品。

               

              鋁土礦樣品10次連續測試穩定性報告

              樣品

              氧化鎂
              MgO

              三氧化二鋁
              Al2O3  

              二氧化硅
              SiO2

              氧化鉀
              K2O

              氧化鈣
              CaO

              二氧化鈦
              TiO2

              氧化錳
              MnO

              三氧化二鐵
              Fe2O3

              Sample-1

              0.438

              84.577

              8.754

              0.196

              0.502

              3.753

              0.049

              1.966

              Sample-2

              0.442

              84.853

              8.88

              0.197

              0.522

              3.799

              0.052

              1.962

              Sample-3

              0.424

              84.508

              8.81

              0.197

              0.509

              3.852

              0.051

              1.983

              Sample-4

              0.427

              84.537

              8.636

              0.196

              0.513

              3.777

              0.051

              1.963

              Sample-5

              0.424

              84.501

              8.709

              0.197

              0.503

              3.791

              0.05

              1.973

              Sample-6

              0.415

              84.496

              8.737

              0.2

              0.513

              3.861

              0.051

              2.013

              Sample-7

              0.45

              84.818

              8.917

              0.197

              0.511

              3.854

              0.051

              1.966

              Sample-8

              0.423

              84.577

              8.689

              0.201

              0.501

              3.838

              0.05

              1.971

              Sample-9

              0.447

              84.381

              8.74

              0.199

              0.495

              3.853

              0.05

              1.971

              Sample-10

              0.453

              84.753

              8.893

              0.201

              0.517

              3.793

              0.052

              1.981

              Average         平均值

              0.434

              84.6

              8.776

              0.198

              0.509

              3.817

              0.051

              1.975

              Standard Deviation
              標準偏差

              0.013

              0.155

              0.094

              0.002

              0.008

              0.039

              0.001

              0.015

              RSD
              相對標準偏差

              3.10%

              0.18%

              1.08%

              0.97%

              1.63%

              1.02%

              1.91%

              0.76%


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              • 地址:江蘇省蘇州工業園區唯新路69號一能科技園2幢407
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