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              熒光光譜測金儀

              簡要描述:熒光光譜測金儀EDX6000D概述:
              無損貴金屬檢測和Karat ID。
              XRF是一種廣泛使用、經過驗證和接受的化學分析方法,用于測定貴金屬的純度和細度。 XRF分析是一種多元素測試替代方法,它比火焰分析和化學測試更快、更便宜。 XRF可對您的銀、鉑和PGM金屬和雜質進行現(xiàn)場分析,使其成為增強客戶信心和確保經銷商可靠性的簡便方法。

              • 產品廠地:蘇州市
              • 廠商性質:生產廠家
              • 更新時間:2024-10-29
              • 訪  問  量:1504

              詳細介紹

              品牌英飛思行業(yè)專用類型通用
              能量分辨率165eV分析含量范圍2ppm-99.999%
              元素分析范圍Ti-U價格區(qū)間面議
              儀器種類手持式/便攜式應用領域綜合

              熒光光譜測金儀EDX6000D特點和優(yōu)勢:

              全新設計的X射線直射樣品角度,避免樣品形狀對戒指或項鏈等彎曲樣品的最終結果的影響。

              圖1-1 EDX-6000X射線角度圖1-2正常X射線角度。

              >ESI EDX-6000設計緊湊,占用空間極小。

              >用于分析的小點準直器;能夠在0.5mm、1mm和3mm直徑的光斑之間自動切換。使其更容易并適用于不同的應用程序。

              >一個易于使用的分析儀,只需按一下按鈕即可提供克拉和成分分析結果。

              >快速輕松地創(chuàng)建結果證書。

              >ESI EDX-6000可以聯(lián)網,以便在生成測試結果時輕松訪問它們。

              >分析儀是一個安全可靠的封閉光束系統(tǒng),需要最少的培訓。

              >一鍵式操作提供最友好的客戶體驗。

              使用ESI EDX-6000 XRF分析儀:

              >快速準確地為現(xiàn)金換金件定價

              >識別和表征各種合金,包括銀、鉑等

              >鑒定樣品中的有毒元素

              >管理精煉和熔化操作的質量控制

              >涂層厚度測量的更多選項

              典型應用:

              • 金克拉鑒定

              • 涂層厚度測量

              • 有害金屬檢驗:Cd、Pb、Ir、Ru

              • 電鍍液分析

              熒光光譜測金儀ESI EDX-6000 XRF規(guī)格:

              緊湊型專業(yè)貴金屬檢測解決方案

              ESI EDX-6000提供了兩全其美的優(yōu)勢。一款適合消費者陳列室環(huán)境的漂亮分析儀,它也可以聯(lián)網以實現(xiàn)高生產力的 QA/QC 工作。 ESI EDX-6000可以輕松運輸?shù)叫枰獪y試的任何位置。

              集成攝像頭指示樣品分析點

              安全的閉束XRF系統(tǒng)

              50WX射線管,1000µA 電流(最大值),加上優(yōu)化的光束設置以進行準確分析

              優(yōu)化校準的一鍵式操作軟件,包括FP和EC方法

              EDX-6000具有無標準的基本參數(shù)和經驗系數(shù)校準,可針對不同的貴重合金(金、銀、鉑、鈀)進行自動調整。定制的結果和報告證書,包括分析結果、測試樣品的圖像、公司徽標等,可以通過可選的PC軟件單擊按鈕生成。

              ESI EDX-6000 6000測試性能

              ESI EDX-6000 認證金合金標準中金的準確度

              ESI EDX-6000 在認證金合金標準中的Pt精度

               

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