XRF熒光光譜合金分析儀

XRF熒光光譜合金分析儀EDX9000A plus

該光譜儀能同時(shí)對(duì)多種不同類型的合金進(jìn)行快速定性定量分析，包括： 

鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬

鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫 等

EDX9000A PLUS能量色散熒光光譜儀-合金元素牌號(hào)分析專家

合金分析是鑒定樣品化學(xué)成分的過程。使用X射線熒光（XRF）光譜儀，不僅能快速確定合金牌號(hào)PMI（Positive material identification），而且能準(zhǔn)確得到整個(gè)合金材料的元素組成。EDX9000A PLUS已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業(yè)，從航空航天測(cè)試，原材料分析，質(zhì)量控制，冶煉，金屬加工，焊接，到廢料回收和快速分類篩檢等領(lǐng)域。

作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜儀，新款EDX9000A PLUS配置了*的基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件。FP軟件是合金分析的條件之一，FP算法能大幅降低合金樣品中各金屬元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)，從而來滿足客戶對(duì)于各類復(fù)雜合金樣品的元素分析需求。

EDX9000A PLUS結(jié)合了最新的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù)，使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器，高功率X射線管，以及美國Amptek的SDD硅漂移檢測(cè)器，EDX9000A PLUS實(shí)現(xiàn)了優(yōu)化的硬件組合。

選擇金屬合金分析儀時(shí)，客戶通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性，分析速度和設(shè)備耐用性，而EDX9000A PLUS是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的體現(xiàn)。同時(shí)，該光譜儀能同時(shí)對(duì)多種不同類型的合金進(jìn)行快速定性定量分析，包括：

鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬

鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫 等

EDX9000A PLUS操作簡單，分析性能出色，還可拓展到以下應(yīng)用

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等

>電鍍液元素分析

>催化劑貴金屬元素分析

功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件

界面清晰易用。一鍵測(cè)試，簡單易用，無需手動(dòng)選擇工作曲線，軟件自動(dòng)匹配樣品基體，即使非專業(yè)技術(shù)人員也能快速掌握儀器使用

基本參數(shù)FP和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC的結(jié)合不僅可以分析高純合金，也可以對(duì)基體復(fù)雜的多雜質(zhì)樣品進(jìn)行定性定量分析。FP參數(shù)算法的應(yīng)用，也使得儀器對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴度大大降低。

>一鍵初始化儀器，基體自動(dòng)匹配

>自動(dòng)定性，半定量和定量分析，不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測(cè)精度

>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果

>簡單的流程欄向?qū)Э?/span>幫助用戶創(chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線

>可定制化測(cè)試報(bào)告，一鍵打印

黃銅樣品10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告