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2025-04-21

X熒光光譜儀是一種基于X射線熒光效應的分析儀器，用于快速、無損地檢測樣品中的元素成分與含量。其工作原理是利用X射線管產生的高能X射線激發樣品，使樣品中元素的原子內層電子躍遷，外層電子填補空穴時釋放出特征X射線熒光。X熒光光譜儀在實際操作中用戶可能會遇到一些問題，以下是常見問題相應...

2022
11-14

用X射線熒光光譜鍍層測厚儀膜厚儀測量復合鍍層厚度和成分用X射線熒光光譜鍍層測厚儀EDX8000B膜厚儀測量復合鍍層的厚度和成分隨著X射線熒光(XRF)元素分析膜厚儀的各種進展,不僅提高了定性和定量分析的能力與精度,而且已被用來測量鍍層厚度,使原來無法進行無損絕對測量的問題得以解決.但是,生產中常見的復合鍍層厚度的絕對測量,仍未園滿解決.英飛思ESI生產的EDX8000B膜厚儀確立的XRF復合鍍層計算方法,能同時測量它們兩層的厚度.該方法基于FP無標樣基本參數法算法，能實現最多5層多鍍層厚度和成分分析，是理想和可靠的金屬鍍層測厚儀...
2022
11-14

XRF熒光光譜儀在土壤重金屬檢測分析中的應用介紹“土壤”一詞對不同的人具有不同的含義。對于可耕種的農民來說，這是他們賴以生存的基礎-莊稼的基礎。對于建筑業者而言，土壤是建筑物和基礎設施的基礎。不同地區甚至不同領域的土壤差異很大，它們具有多種功能：糧食和纖維生產，環境相互作用（土壤，空氣和水之間），生態棲息地和生物多樣性的支持，文化遺產的保護，提供建設和提供原材料的平臺。建筑物（例如房屋，辦公室，學校）和運輸基礎設施（例如鐵路和公路）都建立在土壤上，并且都依賴于土壤的不同特性。從錯誤的角度講，在錯誤的土壤上建造房屋可能會...
2022
11-14

XRF高靈敏度光譜儀測金儀用于爐渣中金和銀的測定高靈敏度光譜儀EDX8000MAX測金儀用于爐渣中金和銀的測定耐火坩堝用于精煉金(Au)和銀(Ag)。在精煉過程中，少量金屬擴散到坩堝。在其生命周期結束時，坩堝被壓碎并研磨，研磨后的物質稱為渣滓。黃金和從浮渣中回收銀。洗滌液中金銀濃度浮渣一般高于其相應礦石中的濃度。需要測定浮渣中的Au和Ag，了解其商業價值。常用的分析技術如原子吸收光譜法、光發射光譜法和電感耦合等離子體質譜法是溶液采樣技術。由于渣滓難熔且具有化學惰性，需要一個復雜而耗時的程序將其帶入解決方案。此外，在分解過程...
2022
11-14

XRF測金儀用于貴金屬黃金含量檢測(K值鑒定)? EDXRF熒光光譜儀EDX6000測金儀用于貴金屬黃金含量檢測(K值鑒定)?因為需求越來越多，所以金屬并特別是黃金的價格一直在加速上漲。在黃金的情況下，由于高需求和伴隨的高價格，珠寶市場充斥聲稱是黃金物體但代替地是贗品的黃銅和鍍薄層金的銅制品。相似地，制品可以展現為具有比實際情況更高的元素(例如相似于金的貴金屬)百分比。物品(例如珠寶)或其他物品可以銷售給例如買家，例如在消費者為獲得現金而出售個人珠寶物品的情況下。在交易期間買家可能必須在不容許詳細分析的環境中對物品做出非?？?..
2022
11-14

XRF測金儀EDX8000 MAX可以檢測到黃金純度和K值嗎？ XRF測金儀EDX8000MAX可以檢測到黃金純度和K值嗎？EDX-8000Max測金儀SDD貴金屬珠寶檢測儀黃金測試專家高計數率高分辨率SDD檢測器超大樣品腔ppm級別測試精度，準確測定金和所有貴金屬（銀，鉑，鈀，銠，銥和釕）的含量最快10秒出結果非破壞性分析可保護貴重珠寶，古董和收藏品一鍵測試，快速上手可拓展應用方案---鍍層和電鍍液分析XRF測金儀EDX8000MAX可以無損地分析金，銀和鉑族金屬，以及非貴重合金金屬，污染物和鍍金。XRF甚至可以用于識別某些假寶石，例如...
2022
11-14

XRF熒光光譜測金儀在黃金珠寶貴金屬檢測分析中的應用什么是X熒光光譜測金儀？XRF測金儀隨著貴金屬價格的每日變化，測試中的微小誤差會嚴重影響您的利潤。鍍金和偽劣物品只是珠寶商，黃金交易商和當鋪所有者每天面臨的一些挑戰。企業需要準確的結果來消除確定項目價值的可變性和主觀性，以確保交易可獲利。X熒光光譜儀測金儀原理X射線熒光光譜法（XRF）測金儀被普遍認為是一種非常準確的方法，它通過用高能光子（例如X射線或γ射線）照射樣品并觀察由此產生的X射線熒光來測量材料的原子組成。通常，X射線熒光光譜儀由激發輻射源（X射線管或放射性同位素），...
2022
11-14

XRF測金儀在黃金珠寶貴金屬檢測分析中的應用什么是X熒光光譜測金儀？XRF測金儀隨著貴金屬價格的每日變化，測試中的微小誤差會嚴重影響您的利潤。鍍金和偽劣物品只是珠寶商，黃金交易商和當鋪所有者每天面臨的一些挑戰。企業需要準確的結果來消除確定項目價值的可變性和主觀性，以確保交易可獲利。X熒光光譜儀測金儀原理X射線熒光光譜法（XRF）測金儀被普遍認為是一種非常準確的方法，它通過用高能光子（例如X射線或γ射線）照射樣品并觀察由此產生的X射線熒光來測量材料的原子組成。通常，X射線熒光光譜儀由激發輻射源（X射線管或放射性同位素），...

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