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2025-05-23

便攜式X熒光光譜儀具備無損檢測、快速響應優勢，支持固體、液體、粉末等多形態樣品直接檢測，典型分析時間僅需數秒至數分鐘。它采用微型化設計，主機重量通常低于1.3kg，配備高靈敏度硅漂移探測器及自動半導體制冷系統，可在-10℃至50℃環境下連續工作8小時以上。便攜式X熒光光譜儀在實際...

2022
9-27

熔融制樣EDXRF射線熒光光譜儀測定碳化鎢及其廢料中的鎢熔融制樣X射線熒光光譜儀Compass300測定碳化鎢及其廢料中的鎢碳化鎢被廣泛應用于硬質合金生產材料,其鎢的含量關系碳化鎢的性能及貨物結算,生產過程中因配比錯誤、打磨等原因還會產生大量的含鎢廢料,從廢料中回收鎢能彌補鎢資源的不足,因此測定碳化鎢及其廢料中的鎢具有重要意義。目前碳化鎢中鎢含量的測定通常參照國家標準采用辛可寧重量法,準確度較高,但只適用于檢測三氧化鎢含量大于50%的樣品,且過程繁瑣,工作量大。我們根據碳化鎢在高溫下易氧化的特點,將碳化鎢轉化為三氧化鎢,采用熔融制...
2022
9-27

能量色散X射線熒光光譜儀測定潤滑油和添加劑中的磷、硫、鈣、鋅和鋇能量色散X射線熒光光譜儀Compass-4294測定潤滑油和添加劑中的磷、硫、鈣、鋅和鋇用x射線熒光光譜法Compass4294測定潤滑油和添加劑中Ba,Ca,P,S,Zn含量,用數學法校正元素間相互影響,直接測定的適用范圍為0.005%～0.5%(S為0.002%～5.00%).元素濃度較高的添加劑經適當稀釋后也可測定.加入回收率為95%～109%,重復性達到ASTMD4927-93B法要求.使用Compass4294-XRF輕松實現對油品中硫元素的無損檢測便攜一體化設計滿...
2022
9-27

XRF熒光光譜儀基體效應校正方式介紹在XRF熒光光譜儀分析中,基體效應往往是引起分析誤差的主要來源之一。基體效應是元素間的吸收一增強效應和物理一化學效應,通常,基體效應是指被測樣品中元素間的吸收-增強效應。為了保證分析結果的準確性,必須對基體效應進行校正。目前對基體效應的校正已發展為兩大分支,其一是通過實驗的手段,稱之為實驗校正法;其二是通過計算的方法,稱之為數學校正法。(一)實驗校正法實驗校正法,除前面所述的粉末稀釋法、薄樣法外,還有內標法、標準比較法、散射線內標法等。內標法是外加一個其特征x射線波長與被測元...
2022
9-26

XRF熒光光譜儀礦石礦產土壤分析儀樣品前處理制備方法介紹?? XRF熒光光譜儀礦石礦產土壤分析儀EDX9000B樣品前處理制備方法介紹??X射線螢光光譜儀XRFSpectrometerX射線熒光光譜儀,分為波長色散型和能量色散型兩類,前者在分辨率和穩定性等方面優于后者,使用廣泛；后者結構簡單,休積小,便于攜帶,適用于野外地質和生產現場分析。波長色散型又分為多道式和順序式兩種,多道式一般有28-30個波道,可同時進行28-30個元素的分析,分析速度快,適合于固定元素或成批試樣的生產控制、地質勘探等方面的分析；而順序式儀器具有較大的靈活性和...
2022
9-26

EDXRF便攜式礦石土壤分析儀對土壤分析檢測的應用便攜式礦石土壤分析儀Compass200能量色散熒光光譜XRF?通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）等。X射線熒光光譜法是利用樣品對X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單，光譜干擾少，試樣形態多樣性及測定時的非破壞性等特點...
2022
9-26

真空型合金分析儀在銅合金檢測分析的應用真空型銅合金分析儀能量色散熒光光譜EDX9000A銅合金具有良好的導電性能，是工業中重要的金屬材料。近年來，全球銅價的大幅上漲進一步增加了銅合金零件的成本。隨著科學技術的飛速發展，提高銅合金材料的性能已至關重要。在高導熱或高導熱條件下，要求提高其硬度、耐磨性和抗電弧燒蝕性。因此，表面改性是延長銅合金零件使用壽命、降低成本的有效途徑。銅合金分析儀EDX9000A，又稱X射線熒光光譜儀，是一種物理的合金元素分析儀，具有快速、無損、多種元素同時分析、分析成本低等特殊技術優勢檢測設備...
2022
9-26

XRF鍍層測厚儀涂層膜厚儀對涂層檢測分析的應用 XRF鍍層測厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進行涂層測量的好處準確的厚度測量有助于制造商提供優質產品，同時控制成本。涂層的厚度應與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產品會增加制造成本。客戶還通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測量涂層，以對進料進行質量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產品線和現場進行質量控制。一臺EDX8000測厚儀可以在短短10秒內提供測試結果，并且可以通過單點校準鏡頭來完善結果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...

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