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              • EDX8000T PLUS

                Simply The Best 微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設計,可分析不規則樣品厚度 高計數率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現快速,無損,高精度測量 高分辨率樣品觀測系統,可移動高精度樣品平臺,準確快速定位測試點位 全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及單鍍層厚度和材料成分進行測量 搭載高精度手調X-Y平臺,使微區測量更便捷

                訪問次數:789
                產品價格:面議
                廠商性質:生產廠家
                更新日期:2025-01-08
              • EDX8000T Plus鍍層測厚光譜儀

                材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數,鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發揮著重要作用。英飛思開發的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優點是準確,快速,無損,操作簡單,測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。

                訪問次數:1771
                產品價格:面議
                廠商性質:生產廠家
                更新日期:2024-10-30
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